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電腦無(wú)法自檢
導語(yǔ)：電腦無(wú)法自檢？系統在完成顯卡的自檢后，才會(huì )開(kāi)始BIOS代碼檢查，顯示器上通常會(huì )顯示BIOS的版本號，主板的型號。下面是小編給大家整理的相關(guān)內容，希望能給你帶來(lái)幫助!
電腦無(wú)法啟動(dòng)癥狀：主機能夠加電，屏幕有圖像顯示但是不能完成自檢過(guò)程。相信很多朋友都遇到過(guò)這種情況，其實(shí)電腦不能正常啟動(dòng)故障排除不難，下面是出現主機能夠加電，屏幕有圖像顯示但是不能完成自檢過(guò)程的故障癥狀可能原因：
1、BIOS芯片故障或BIOS被病毒破壞
主機加電后最初要完成BIOS代碼程序的加栽，首先系統把BIOS中的第一條指令讀入內存并解釋執行。該指令無(wú)論是AWARD還是AMI都是一樣的，為一條3字節的跳轉指令。接下來(lái)就是讀入BIOS自舉塊，以完成BIOS自身的檢測和加載。只有系統把BIOS代碼讀入內存后，CPU才會(huì )按代碼程序開(kāi)始執行自檢和啟動(dòng)過(guò)程。
BIOS出現的故障不多，偶爾會(huì )出現BIOS芯片因為老化而部分存儲單元失效，致使程序代碼不全，無(wú)法正常完成系統功能調用而出現不能正常啟動(dòng)現象，如圖十四所示。
還有，像CIH之類(lèi)的病毒，惡意的改寫(xiě)主板的BIOS代碼，造成主機不能啟動(dòng)，開(kāi)機后主機能夠正常加電，風(fēng)扇工作，但是無(wú)法完成自檢過(guò)程，同時(shí)顯示器有文字顯示，主機還有報警聲；當然嚴重的可能是只能加電，顯示器沒(méi)有圖像，主機也無(wú)報警聲。
對于BIOS被破壞的故障，如果BIOS的FLASH芯片能夠取下來(lái)，我們只需要使用編程器重寫(xiě)就可以了；如果FLASH芯片是直接焊接在主板上的，那我們就只能請人或自己動(dòng)手先把FLASH芯片焊下來(lái)，用編程器寫(xiě)好代碼后，再焊回主板，非常的麻煩。稍有疏忽或意外，就可能前功盡棄。
2、顯卡故障
顯卡的BIOS損壞或AGP通訊電路故障時(shí)，就會(huì )出現顯卡初始化時(shí)無(wú)法完成，如圖所示，導致主機在啟動(dòng)時(shí)畫(huà)面長(cháng)時(shí)間停留在顯卡BIOS自檢處不能通過(guò)而死機。
注意:使用兩三年的主板，特別是在網(wǎng)吧里使用的機器，因為機器長(cháng)時(shí)間高溫工作，CPU周?chē)臑V波電容因烘烤而失容，造成CPU供電電源中交流成份增加，表現為機器在啟動(dòng)不易，需要多次開(kāi)機偶爾才能正常啟動(dòng)進(jìn)入桌面，經(jīng)常在自檢過(guò)程中死機，故障表現不穩定多變。
3、BIOS自檢
系統在完成顯卡的自檢后，才會(huì )開(kāi)始BIOS代碼檢查，顯示器上通常會(huì )顯示BIOS的版本號，主板的型號。
4、CPU的L2或L1CACHE不完全損壞或CPU其他電路出現老化
當主機完成顯卡的初始化后，接下來(lái)開(kāi)始檢測CPU自檢。當CPU的L1或L2出現故障時(shí)，就會(huì )長(cháng)時(shí)間停滯在“CHECKNVRAM......”處。出現此故障時(shí)，部分機器還能夠進(jìn)入CMOS設置，我們可以手動(dòng)的關(guān)閉CPU的L1和L2，再試著(zhù)觀(guān)察機器能不能通過(guò)自檢。如果可以，該CPU基本還能夠降速使用。如果不可以，則只能更換CPU解決問(wèn)題。
多數當CPU出現部分損壞時(shí)經(jīng)常表現為系統報BIOS錯誤（類(lèi)以CIH病毒破壞），L1或L2錯誤，不能通過(guò)自檢，只能進(jìn)入安全模式，在啟動(dòng)過(guò)程中自動(dòng)重啟等現象。
5、內存故障
系統完成CPU檢測后，就進(jìn)行內存測試階段。如果我們關(guān)閉了POST快速檢測選項，我們開(kāi)機時(shí)就看不到長(cháng)時(shí)間的內存測試界面（連續三遍），只有一遍測試。
內存芯片有故障或內存插槽變形與內存接觸不良，內存條金手指氧化，內存插槽金屬簧片變形或斷裂，內存供電電壓偏低或偏高都會(huì )出現內存自檢無(wú)法通過(guò)而死機。
6、PNP設備初始化
7、系統無(wú)法完成IDE設備檢測工作
1）硬盤(pán)數據線(xiàn)的兩端接口與硬盤(pán)或主板接觸不良，插接不實(shí)，或者硬盤(pán)線(xiàn)質(zhì)量低劣造成部分地線(xiàn)斷線(xiàn)。
2）硬盤(pán)，光驅性能部分損壞，造成主機無(wú)法完成自檢過(guò)程，導致主機不能啟動(dòng)。
3）光驅線(xiàn)反接，系統自檢時(shí)間變長(cháng)，甚至連CMOS設置都會(huì )死機。
4）光驅或硬盤(pán)的主從盤(pán)或硬盤(pán)的容量限制跳線(xiàn)設置錯誤也會(huì )導致系統無(wú)法通過(guò)自檢。
5）像華擎M266A主板必須要求使用80針的硬盤(pán)線(xiàn)和硬盤(pán)必須設置在IDE1上。如果我們把硬盤(pán)設置在IDE2上時(shí)，自檢過(guò)程中會(huì )報警，系統掛起。
6）一般情況下光驅都掛接在IDE2接口上，但是新功能的主板在開(kāi)機自檢時(shí)會(huì )對機器正常確配置提出建議。如微星的MS-6368主板在自檢時(shí)，如果我們沒(méi)有使用DMA66數據線(xiàn)時(shí)，就會(huì )出現如下圖所示的提示，不過(guò)系統仍然能夠正常啟動(dòng)。
注意:如果是ESCD數據沒(méi)有更新，不會(huì )影響系統自檢，新添加的設置在自檢時(shí)系統不能識別，自檢沒(méi)有任何異常。
8、軟驅接線(xiàn)錯誤或CMOS中軟驅設置錯誤
對于因為軟驅線(xiàn)接反的故障，會(huì )導致軟驅燈常亮，但不影響系統的正常啟動(dòng)。
如果CMOS中軟件AB驅設置錯誤，或軟驅線(xiàn)連接松動(dòng)或錯誤時(shí)，就會(huì )出現“按F1繼續”的提示，導致系統自檢中止。我們如果不想進(jìn)行配置或不使用軟驅?zhuān)灰聪隆癋1”鍵系統就會(huì )繼續啟動(dòng)完成系統加載過(guò)程。
9、CMOS電池沒(méi)有電，CMOS數據錯誤
當CMOS電池沒(méi)電時(shí)，配置信息丟失或者CMOS數據設置錯誤，計算機在自檢時(shí)就會(huì )出現“CMOS校驗和錯誤”，需要“按F1繼續”的字樣提示。這種問(wèn)題一般都不是致命性故障，只要按下“F1”鍵，計算機就可以繼續啟動(dòng)，并完成系統加載過(guò)程。但對于普通的計算機用戶(hù)來(lái)說(shuō)，加電后計算機沒(méi)有正常進(jìn)入桌面而是停止不前了，就會(huì )誤認為計算機壞了。
解決的方法:
1）對于CMOS電池沒(méi)有，直接更換CMOS電池就可以了，一塊+3V的鋰電池主板可以使用3年左右。有時(shí)候CMOS信息不能保存或丟失，并不是CMOS電池沒(méi)電了，而是相關(guān)電路出現了問(wèn)題。
2）如果CMOS電池電壓不低于+2.8V時(shí)，仍然出現校驗和錯，就需要我們按“DEL”或“F2”鍵進(jìn)入BIOS設置界面，對系統配置進(jìn)行正確的設置。
10、當系統完成全部硬件設備自檢后，就會(huì )在屏幕上列出該機的硬件配置列表和資源分配占用列表
只要系統能夠完成自檢，已經(jīng)說(shuō)明計算機的大部分配件沒(méi)有致命性故障，性能基本正常。如果接下來(lái)系統仍然不能啟動(dòng)，問(wèn)題就應該出現在軟件方面了。
11、其他異常情況造成的系統無(wú)法正常啟動(dòng)
1）開(kāi)關(guān)電源因為內部濾波電容漏液或失容導致供電不穩，其直流部分輸出電壓偏高或偏低，如+12V偏低時(shí)容易出現硬盤(pán)丟失，系統無(wú)法找到硬盤(pán)或光驅出盒不易。如果機器能夠正常啟動(dòng)，在使用過(guò)程中容易出現大面積硬盤(pán)壞道，導致數據讀寫(xiě)錯誤或丟失。如果+5V電壓異常，則容易出現光驅無(wú)法通過(guò)自檢，系統找不到硬盤(pán)等故障。
2）CPU與散熱風(fēng)扇接觸不良，或者CPU與散熱風(fēng)扇之間有異物，也可能是因為散熱風(fēng)扇未接電源或灰塵過(guò)多時(shí)，開(kāi)機后容易出現雖然主機能夠開(kāi)機加電自檢，但始終有異常的報警聲提示；有時(shí)還能夠正常進(jìn)入系統桌面操作；有時(shí)會(huì )在啟動(dòng)過(guò)程中死機。
3）CPU的散熱風(fēng)扇中的速度檢測腳斷線(xiàn)，造成系統無(wú)法檢測到風(fēng)扇轉速而不能開(kāi)機。
該故障表現為開(kāi)機加電一段時(shí)間后系統突然斷電，實(shí)際上這是系統在自檢時(shí)發(fā)現CPU風(fēng)扇轉速為零，為避免造成CPU損壞而強制系統斷電的保護措施。但是往往因為在自檢啟動(dòng)過(guò)程中突然斷電，有時(shí)顯示器的畫(huà)面還沒(méi)有出現，造成故障不易發(fā)現，不容易查出故障部位。
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